MFL. Требования к чистоте контролепригодной поверхности
Метод неразрушающего контроля, основанный на магнитных потоках рассеяния (MFL), используется для быстрого обнаружения коррозии, применяется в промышленности, где необходим контроль изделий и элементов из ферромагнитных материалов.
Рекомендации по чистоте поверхности для метода MFL
Существуют факторы, которые ограничивают возможность проведения контроля методом MFL. В этом блоге описываются минимальные требования к поверхности контроля при использовании MFL дефектоскопов, которые необходимо соблюдать для получения достоверных результатов контроля.
Состояние поверхности контроля имеет огромное влияние на проводимый контроль. Ил, стоячая вода, чешуйчатость, отложения, отслоения, рыхлый ферритный материал, продукты коррозии, любой намагничивающийся мусор необходимо удалить с объекта контроля перед началом обследования. Поверхность должна быть подготовлена таким образом, чтобы можно было легко обозревать возможные наружные повреждения дна конструкции резервуара.
Для проведения контроля надлежащим образом, материал объекта контроля должен быть насыщен магнитным полем. Поэтому очень важно, чтобы созданное скарном MFL замкнутое магнитное поле, не искажалось попадающим в зону его влияния различных предметов и сыпучих материалов. В противном случае возможно появление большого количества ложных индикаций.
Если дно резервуара в хорошем состоянии и до опорожнения резервуар содержал лёгкий продукт, то для подготовки поверхности перед контролем достаточно просто промыть дно струёй воды. Но если дно резервуара в плохом состоянии с высоким уровнем отслоений/наслоений/отложений на поверхности, обширной коррозией по всей поверхности, то может потребоваться пескоструйная обработка, дробеструйная или гидроструйная очистка сверхвысокого давления.
После завершения очистки, также требуется удалить всю остаточную пыль, песок, мусор, абразивные материалы и воду.
Неприемлемые поверхности для метода MFL
Представленные далее примеры на фотографиях наглядно дадут представление, какое состояние объектов контроля не подходит для реализации метода MFL.
Рисунок 1 – Остаточный слой продукта.
Рисунок 2 – Остаточный слой продукта может замаскировать очаги коррозии на поверхности.
Рисунок 3 – Чешуйчатость, отложения внутренней поверхности дна резервуара.
Рисунок 4 – Толстые отслоения дна резервуара.
Рисунок 5 – Сочетание сыпучих продуктов коррозии, чешуйчатости и отложений.
Рисунок 6 – Кольцевая пластина: покрыта толстым слоем отложений, которые маскируют коррозию на верхней поверхности.Сравните с рисунком 9, где показана поверхность после дополнительной очистки, доведённая до приемлемого состояния.
Рисунок 7 – Неравномерное покрытие поверхности. Отмеченная маркером зона неконтролепригодна.Приемлемые поверхности для метода MFL
На последующих фотографиях показаны примеры поверхностей, которые подверглись очистке. Представленные примеры могут послужить ориентиром для принятия решения о контролепригодности объектов методом MFL.
Рисунок 8 – Дно резервуара, очищенное с помощью гидроструйной очистки сверхвысокого давления.Превосходное состояние, но такое встречается довольно редко.
Рисунок 9 – После дополнительной очистки, наружные коррозионные поражения теперь хорошо видны.
Рисунок 10 - В целом приемлемая поверхность с покрытием.Однако, существует возможность наличие ложных индикаций в от волдырей на поверхности.
Рисунок 11 - Очищенное до приемлемого состояния дно резервуара.Однако, коррозия в зоне показанных вмятин точно обнаружить не получиться.
Рисунок 12 – Очищенное до приемлемого состояния дно.Однако, кое-где остались небольшие тонкие отложения.
Рисунок 13 - Очищенное до приемлемого состояния дно резервуара.Однако, кое-где остались небольшие тонкие отложения.
